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Foto de stock 1-91517081
Foto libre de derechos Semiconductor silicon wafer undergo...
- Descripción: Foto de genkur. Semiconductor silicon wafer undergoing probe testing. Selective focus.
- Id: 1-91517081
- Tipo de imagen: Foto
- Autor: genkur
- Palabras clave:
aguja barquillo calidad circuito circuito integrado circulo colchoneta computadora conectar consejos contacto digitales disco electronica equipos estacion fabricacion industria instalaciones eléctricas laboratorio maquina medicion microscopio morir procesador proceso produccion prueba semiconductores silicio sistema sonda tablero tecnología voltaje
Más información
| Tamaño | Anchura * Altura | MB | Créditos |
|---|---|---|---|
| Small web (jpg) | 450 px * 300 px | 0.39 | 1 |
| Large web (jpg) | 848 px * 565 px | 1.37 | 2 |
| Small print (jpg) | 1678 px * 1119 px | 5.37 | 3 |
| Medium print (jpg) | 2508 px * 1672 px | 12 | 4 |
| Large print (jpg) | 3831 px * 2554 px | 27.99 | 5 |
| Extra large print (jpg) | 4320 px * 2880 px | 35.6 | 6 |
| TIFF format (tiff) | 5400 px * 3600 px | 55.62 | 10 |
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